Публикации участников конференции

Англо-русскоязычный научный химический журнал
"БУТЛЕРОВСКИЕ СООБЩЕНИЯ"
Русский | English

Сведения о статье:

Захаров Ю. А., Захаров Н. С. , Попова А. Н. , Руссаков Д. М. Структурный анализ наносистемы FePt методом просвечивающей электронной микроскопии

Данные о статье:
Название статьи:	Структурный анализ наносистемы FePt методом просвечивающей электронной микроскопии
Все авторы публикации в порядке следования:	Захаров Ю. А., Захаров Н. С. , Попова А. Н. , Руссаков Д. М.
Аннотация:	В данной работе на примере биметаллической наноразмерной системы FePt (синтезированную методом совместного восстановления тетраборгидридом натрия водных растворов прекурсоров металлов) предлагается новый подход к оценке структурных параметров наноразмерных моно- и полиметаллических систем методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). Авторами работы проводится сопоставление полученных методом ПЭМ данных со структурными данными, полученными методом рентгеновского дифракционного анализа с целью расширить число способов оценки структурных параметров наноразмерных объектов. Так методом просвечивающей электронной микроскопии были рассчитаны межплоскостные расстояния и средние размеры исследуемых наночастиц системы FePt по микроизображениям высокого разрешения, благодаря которым имеется уникальная возможность различать индивидуальные атомы кристаллической решетки исследуемых объектов. Полученные величины хорошо согласуются с данными полученными методом рентгеновской дифракции, который позволяет определять не только фазовый состав, но и выполнять структурный анализ вещества, а также и оценивать размер, исследуемых наноразмерных частиц. Предлагаемый авторами работы подход к исследованию структурных характеристик наночастиц FePt методом просвечивающей электронной микроскопии показал, что можно применять метод ПЭМ в качестве инструмента оценки размеров частиц и структурных параметров анализируемых объектов. Но, так как методом ПЭМ рассматривается только один участок образца, в полной мере невозможно оценить структуру и фазовый состав исследуемого объекта. Поэтому для полной картины структурных параметров наночастиц совместно с методом число способов оценки структурных параметров нельзя ограничивать методами рентгеновской дифракции. необходимо проводить рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ исследуемых объектов.
ROI:	jbc-01/20-63-7-79
DOI:	10.37952/jbc-01/20-63-7-79
Ключевые слова:	просвечивающая электронная микроскопия, ПЭМ, параметры ячейки, кристаллическая решётка, FePt, нанчастицы
Общий форум статьи:	Смотреть форум
Шапка статьи в pdf:	Скачать [размер файла: 205кб.] Дата: 04.08.2020 19:14:52
Finish english abstract pdf:	Скачать [размер файла: 468кб.] Дата: 30.01.2021 20:12:55
Комментарий: